Test des circuits intégrés
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Date
2022
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
FGEI.UMMTO
Abstract
Description
57 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)
Keywords
circuits intégrés, Équipements de Test « ATE », Test industriel, Vecteurs de Test (ATPG
Citation
Microélectronique