Test des circuits intégrés
dc.contributor.author | Ait Abdelmalek Ghania | |
dc.date.accessioned | 2025-02-18T08:52:29Z | |
dc.date.available | 2025-02-18T08:52:29Z | |
dc.date.issued | 2022 | |
dc.description | 57 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom) | |
dc.identifier.citation | Microélectronique | |
dc.identifier.other | COURS.ELN.02-2022 | |
dc.identifier.uri | https://dspace.ummto.dz/handle/ummto/26687 | |
dc.language.iso | fr | |
dc.publisher | FGEI.UMMTO | |
dc.subject | circuits intégrés | |
dc.subject | Équipements de Test « ATE » | |
dc.subject | Test industriel | |
dc.subject | Vecteurs de Test (ATPG | |
dc.title | Test des circuits intégrés | |
dc.type | Thesis |